- Titre
- Monte-Carlo simulations to quantify neutron-induced multiple bit upsets in advanced SRAMs
- Créateurs - sans rôle
- T. Mérelle - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierFrédéric Saigné - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierB. Sagnes - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierG. Gasiot - STMicroelectronics [Crolles]P. Roche - STMicroelectronics [Crolles]T. Carriere - EADS, Corporate Research CenterM.-C. Palau,Frédéric Wrobel - Laboratoire de Physique Electronique des SolidesJ.-M. Palau - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de Montpellier
- Colloque
- 5th European Workshop on Radiation and its Effects on Components and Systems (Madrid, Spain, 2004)
- Identifiants
- 9944663709311
- Unité académique
- Université de Montpellier
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01806854
Acte de colloque
Monte-Carlo simulations to quantify neutron-induced multiple bit upsets in advanced SRAMs
5th European Workshop on Radiation and its Effects on Components and Systems (Madrid, Spain, 2004)
Indicateurs
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