- Titre
- Molecular Beam Epitaxy and characterization of high Bi content GaSbBi alloys
- Créateurs - sans rôle
- Olivier Delorme - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESLaurent Cerutti - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESEric Tournié - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJean-Baptiste Rodriguez - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- 13th International Conference on Mid-Infrared Optoelectronics: Materials and Devices (MIOMD) (Beijing, China, 2016)
- Identifiants
- 9946308609311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-02327267
Acte de colloque
Molecular Beam Epitaxy and characterization of high Bi content GaSbBi alloys
13th International Conference on Mid-Infrared Optoelectronics: Materials and Devices (MIOMD) (Beijing, China, 2016)
Indicateurs
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