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Modes de vieillissement et de défaillance de modules IGBT sous cyclage actif à haute température
Acte de colloque

Modes de vieillissement et de défaillance de modules IGBT sous cyclage actif à haute température

V. Smet, F. Forest, J.-J. Huselstein, Frédéric Richardeau, M. Berkani, Z. Khatir et Stéphane Lefebvre
Congrès national EPF2010 (Saint Nazaire, France, 2010)

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