Modeling low dose rate effects in irradiated bipolar base oxides

Acte de colloque

R.J. Graves, C.R. Cirba, R.D. Schrimpf, R.J. Milanowski, A. Michez, D.M. Fleetwood, S.C. Witczak et Frédéric Saigné

35th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference (Newport Beach, United States, 1998)

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Titre: Modeling low dose rate effects in irradiated bipolar base oxides
Créateurs - sans rôle: R.J. Graves
C.R. Cirba
R.D. Schrimpf - Vanderbilt University
R.J. Milanowski
A. Michez - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de Montpellier
D.M. Fleetwood - Sandia National Laboratories
S.C. Witczak
Frédéric Saigné - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de Montpellier
Colloque: 35th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference (Newport Beach, United States, 1998)
Identifiants: 9946474009311
Unité académique: Université de Montpellier
Langue: English
Type de ressource: Conference proceeding
Champs locaux: hal-01803584