- Titre
- Modeling Halo Implant Failures in MOS Sub-Micron Technology
- Créateurs - sans rôle
- Arnaud Regnier - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de ProvenceJean-Michel Portal - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de ProvenceRachid Bouchakour - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de ProvenceMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 6th IEEE Latin American Test Workshop, pp.29-33
- Colloque
- LATW: Latin American Test Workshop (Salvador, Bahia, Brazil, 30/03/2005–02/04/2005)
- Identifiants
- 9943124409311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00106513
Acte de colloque
Modeling Halo Implant Failures in MOS Sub-Micron Technology
6th IEEE Latin American Test Workshop, pp.29-33
LATW: Latin American Test Workshop (Salvador, Bahia, Brazil, 30/03/2005–02/04/2005)
2005
Indicateurs
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