Résumé
Simple photothermal analysis and associated inversion procedures are proposed for thermal mapping of functionally graded materials whose thermal properties are varying parallel to the sample surface.
- Titre
- Microscopic characterization of functionally graded materials
- Créateurs - sans rôle
- Julien Jumel - ONERA/DMSE, BP 72, 92322, Châtillon Cedex, FranceFrançois Lepoutre - CNAM/BNM-INM, 292 rue St. Martin, 75003 Paris, FranceNicolas Terrien - ONERA/DMSE, BP 72, 92322, Châtillon Cedex, FranceOlivier Arnould - LMT, 61 Av. du Président Wilson, 94235, Cachan Cedex, FranceJean-Paul Roger - UPRA005 CNRS, ESPCI, 10 rue Vauquelin, 75005 Paris, France
- Détails de publication
- Review of Scientific Instruments, Vol.74(1), pp.837-838
- Colloque
- Papers from the 12th International Conference on Photoacoustic and Photothermal Phenomena
- Nombre de pages
- 2
- Identifiants
- 99147671909311
- Unité académique
- Laboratoire de Mécanique et Génie Civil - LMGC
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding