- Titre
- Mesure des indices de réfraction de semiconducteurs composés III-V et de guides plans par la technique de couplage par un réseau de diffraction
- Créateurs - sans rôle
- E. M. Skouri - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierP. Martin - Institut de PhysiqueP. ArguelP. Grech - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierLaurent Chusseau - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierF. Lozes-DupuyC. Alibert - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de Montpellier
- Colloque
- Journées d'Étude "Procédés et Modèles pour la Micro-Optique Passive" (Georgia Tech Lorraine, Metz, France, 1995)
- Identifiants
- 9946842909311
- Unité académique
- Université de Montpellier
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01904261
Acte de colloque
Mesure des indices de réfraction de semiconducteurs composés III-V et de guides plans par la technique de couplage par un réseau de diffraction
Journées d'Étude "Procédés et Modèles pour la Micro-Optique Passive" (Georgia Tech Lorraine, Metz, France, 1995)
1995
Indicateurs
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