- Titre
- Measurement and characterization of low frequency noise collector current in 0.13 µm SiGe:C HBTs
- Créateurs - sans rôle
- M. Seif - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESF. Pascal - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESB. Sagnes - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESA. Hoffmann - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESS. Haendler - STMicroelectronics [Crolles]P. Chevalier - STMicroelectronics [Crolles]D. Gloria - STMicroelectronics [Crolles]
- Colloque
- 2015 International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF) (Xian, China, 2015)
- Identifiants
- 9945610509311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01907409
Acte de colloque
Measurement and characterization of low frequency noise collector current in 0.13 µm SiGe:C HBTs
2015 International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF) (Xian, China, 2015)
Indicateurs
1 Consultations de la notice