March Tests Improvements for Address Decoder Open and Resistive Open Fault Detection

Acte de colloque

Open Access

Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Simone Borri et Magali Bastian Hage-Hassan

5th IEEE Latin American Test Workshop, pp.31-36

LATW: Latin American Test Workshop (Cartagena, Colombia, 08/03/2004–10/03/2004)

2004

Résumé

March Tests Improvements for Address Decoder Open and Resistive Open Fault Detection

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Titre: March Tests Improvements for Address Decoder Open and Resistive Open Fault Detection
Créateurs - sans rôle: Luigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Patrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Serge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Arnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Simone Borri - Infineon Technologies France
Magali Bastian Hage-Hassan - Infineon Technologies France
Détails de publication: 5th IEEE Latin American Test Workshop, pp.31-36
Colloque: LATW: Latin American Test Workshop (Cartagena, Colombia, 08/03/2004–10/03/2004)
Identifiants: 9946766809311
Unité académique: Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
Langue: English
Type de ressource: Conference proceeding
Champs locaux: lirmm-00108642