- Titre
- March Pre: an Efficient Test for Resistive-Open Defects in the SRAM Pre-charge Circuit
- Créateurs - sans rôle
- Luigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMagali Bastian Hage-Hassan - Infineon Technologies FranceSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- DDECS'06: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, pp.256-261
- Colloque
- DDECS'06: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (Prague, République Tchèque, 18/04/2006–21/04/2006)
- Identifiants
- 9942054309311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00134776
Acte de colloque
March Pre: an Efficient Test for Resistive-Open Defects in the SRAM Pre-charge Circuit
DDECS'06: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, pp.256-261
DDECS'06: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (Prague, République Tchèque, 18/04/2006–21/04/2006)
04/2006
Indicateurs
1 Consultations de la notice