- Titre
- Mapping Test Power to Functional Power through Smart X-Filling for LOS Scheme
- Créateurs - sans rôle
- Fangmei Wu - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMohammad Tehranipoor - University of ConnecticutKohei Miyase - Kyushu Institute of TechnologyXiaoqing Wen - Kyushu Institute of TechnologyNisar Ahmed - Texas Instrument
- Colloque
- LPonTR'11: IEEE International Workshop on the Impact of Low Power on Test and Reliability (Trondheim, Norway)
- Identifiants
- 9945835709311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00651905
Acte de colloque
Mapping Test Power to Functional Power through Smart X-Filling for LOS Scheme
LPonTR'11: IEEE International Workshop on the Impact of Low Power on Test and Reliability (Trondheim, Norway)
26/05/2011
Indicateurs
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