- Titre
- Low frequency noise spectroscopy of interfacial defects in advanced Si and Si/SiGe(C) bipolar transistors
- Créateurs - sans rôle
- Jérémy Raoult - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFabien Pascal - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESMathieu Marin - STMicroelectronics [Crolles]
- Colloque
- EMRS (Strasbourg, France, 26/05/2008)
- Identifiants
- 9945560109311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01894351
Acte de colloque
Low frequency noise spectroscopy of interfacial defects in advanced Si and Si/SiGe(C) bipolar transistors
EMRS (Strasbourg, France, 26/05/2008)
Indicateurs
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