- Titre
- Low frequency gate noise modeling of ultrathin oxide MOSFETs
- Créateurs - sans rôle
- Frédéric Martinez - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESM. Valenza - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- SPIE Fourth International Symposium on Fluctuations and Noise (Florence, Italy, 2007)
- Identifiants
- 9942718709311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-02066844
Acte de colloque
Low frequency gate noise modeling of ultrathin oxide MOSFETs
SPIE Fourth International Symposium on Fluctuations and Noise (Florence, Italy, 2007)
Indicateurs
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