- Titre
- Low Voltage Testing of Gate Oxide Short in CMOS Technology
- Créateurs - sans rôle
- Michel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesJean-Marc J.-M. Galliere - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMFlorence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesYves Bertrand - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 5th IEEE International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, pp.168-174
- Colloque
- DDECS: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (Brno, Czech Republic, 2002)
- Identifiants
- 9942889309311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00268526
Acte de colloque
Low Voltage Testing of Gate Oxide Short in CMOS Technology
5th IEEE International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, pp.168-174
DDECS: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (Brno, Czech Republic, 2002)
2002
Indicateurs
1 Consultations de la notice