- Titre
- Localized Irradiation of a Microcircuit using a Scanning Electron Microscope for Observation of Circuit Effects
- Créateurs - sans rôle
- Y. Gonzalez Velo - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJ. Boch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESF. Pichot - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJ. Mekki - European Organization for Nuclear ResearchN. Roche - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESS. PerezJ.-R. Vaillé - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESL. Dusseau - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESE. Lorfèvre - Centre National d'Études SpatialesR. D. Schrimpf - Vanderbilt University
- Colloque
- 47th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference (Denver, United States, 2010)
- Identifiants
- 9946899109311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01823524
Acte de colloque
Localized Irradiation of a Microcircuit using a Scanning Electron Microscope for Observation of Circuit Effects
47th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference (Denver, United States, 2010)
Indicateurs
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