- Titre
- Laser atom probe tomography: Some applications
- Créateurs - sans rôle
- D. Blavette - Groupe de Physique des MatériauxE. Cadel - Groupe de Physique des MatériauxDominique Mangelinck - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de ProvenceK. Hoummada - Aix-Marseille UniversitéRodrigue Lardé - Groupe de Physique des MatériauxF. Vurpillot - Groupe de Physique des MatériauxB. Gault - Groupe de Physique des MatériauxA. Vella - Groupe de Dynamique des Phases CondenséesPhilippe Pareige - Groupe de Physique des MatériauxJonathan Houard - Groupe de Physique des MatériauxBernard Deconihout - Groupe de Physique des Matériaux
- Détails de publication
- IVNC and IFES 2006 - Technical Digest - l9th International Vacuum Nanoelectronics Conference and 50th International Field Emission Symposium, pp.61--62
- Colloque
- IVNC and IFES 2006 - Technical Digest - l9th International Vacuum Nanoelectronics Conference and 50th International Field Emission Symposium (Unknown, Unknown Region, 2006)
- Identifiants
- 9942086209311
- Unité académique
- Université de Montpellier
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01928901
Acte de colloque
Laser atom probe tomography: Some applications
IVNC and IFES 2006 - Technical Digest - l9th International Vacuum Nanoelectronics Conference and 50th International Field Emission Symposium, pp.61--62
IVNC and IFES 2006 - Technical Digest - l9th International Vacuum Nanoelectronics Conference and 50th International Field Emission Symposium (Unknown, Unknown Region, 2006)
2006
Indicateurs
1 Consultations de la notice