- Titre
- Investigation of the bias effect on total dose induced degradation on bipolar linear microcircuits
- Créateurs - sans rôle
- Y. Gonzalez Velo - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJ. Boch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESN. RocheS. Perez - Centre de Recherches sur les Macromolécules VégétalesJ.-R. Vaillé - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESL. Dusseau - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESE. Lorfèvre - Centre National d'Études SpatialesR. D. SchrimpfC. ChatryA. Canals
- Colloque
- 10th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (Bruges, Belgium, 2009)
- Identifiants
- 99116037309311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01822873
Acte de colloque
Investigation of the bias effect on total dose induced degradation on bipolar linear microcircuits
10th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (Bruges, Belgium, 2009)
Indicateurs
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