- Titre
- Influence of Generation-Recombination Process on Transient Regime and Noise Spectra in p-Si at 77 K
- Créateurs - sans rôle
- L. Hlou - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierN. Nemar - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierL. Varani - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierP. Houlet - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierJ.-C. Vaissière - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierJ.-P. Nougier - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierL. Reggiani - CNR-INFM and Dipartimento di Fisica, Università di Modena e Reggio Emilia
- Contributeurs - sans rôle
- V. Bareikis and R. Katilius
- Colloque
- 13th International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations (Palanga, Lithuania, 1995)
- Publications en série
- Proceedings of the 13th International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations, edited by V. Bareikis and R. Katilius
- Identifiants
- 9942099609311
- Unité académique
- Université de Montpellier
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-02433996
Acte de colloque
Influence of Generation-Recombination Process on Transient Regime and Noise Spectra in p-Si at 77 K
Proceedings of the 13th International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations, edited by V. Bareikis and R. Katilius
13th International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations (Palanga, Lithuania, 1995)
1995
Indicateurs
1 Consultations de la notice