- Titre
- Incidence des Défauts Résistifs dans les Circuits de Précharge des Mémoires SRAM
- Créateurs - sans rôle
- Luigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMagali Bastian Hage-Hassan - Infineon Technologies France
- Colloque
- JNRDM 2005 - 8e Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (Paris, France, 10/05/2005–12/05/2005)
- Identifiants
- 9943317709311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- French
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00106529
Acte de colloque
Incidence des Défauts Résistifs dans les Circuits de Précharge des Mémoires SRAM
JNRDM 2005 - 8e Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (Paris, France, 10/05/2005–12/05/2005)
2005
Indicateurs
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