- Titre
- Impact of process scaling on BSIM noise parameters
- Créateurs - sans rôle
- M Valenza - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierA Hoffmann - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierA Eya'a Mvongbote - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierFrédéric Martinez - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierA Laigle - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierD Rigaud - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de Montpellier
- Colloque
- International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations (Prague, Czech Republic, 2003)
- Identifiants
- 9943017409311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-02066829
Acte de colloque
Impact of process scaling on BSIM noise parameters
International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations (Prague, Czech Republic, 2003)
Indicateurs
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