- Titre
- Impact of Total Ionizing Dose on the Electromagnetic Susceptibility of a single bipolar transistor
- Créateurs - sans rôle
- Adrien Doridant - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESSylvie Jarrix - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJérémy Raoult - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAmable Blain - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESNathalie ChatryPhilippe Calvel - Thales Alenia Space [Toulouse]Patrick Hoffmann - CEA GramatLaurent Dusseau - Université de Montpellier, Centre Spatial de l'Université de Montpellier - CSUM
- Colloque
- RADECS (Seville, Spain, 26/09/2011)
- Identifiants
- 9945454709311
- Unité académique
- Centre Spatial de l'Université de Montpellier - CSUM; Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01893980
Acte de colloque
Impact of Total Ionizing Dose on the Electromagnetic Susceptibility of a single bipolar transistor
RADECS (Seville, Spain, 26/09/2011)
Indicateurs
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