- Titre
- Impact of Technology Scaling on Defects and Parameter Deviations in Embedded SRAMs
- Créateurs - sans rôle
- Arnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Colloque
- NVM'11: Leading-Edge Embedded NVM Workshop (Gardane, France)
- Identifiants
- 99151936509311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00679494
Acte de colloque
Impact of Technology Scaling on Defects and Parameter Deviations in Embedded SRAMs
NVM'11: Leading-Edge Embedded NVM Workshop (Gardane, France)
17/11/2011
Indicateurs
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