- Titre
- Impact of TID effect on the analog SET sensitivy of linear integrated circuits
- Créateurs - sans rôle
- M. C. Bernard - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESL. Dusseau - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESS. Buchner - SFA Inc/NRLD. Mcmorrow - United States Naval Research LaboratoryR. Ecoffet - Centre National d'Études SpatialesJ. Boch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJ.-R. Vaillé - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESR. D. Schrimpf - Vanderbilt UniversityK. Label
- Colloque
- IEEE NSREC07 Conference (Honolulu, United States, 2007)
- Identifiants
- 99152240909311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-02026155
Acte de colloque
Impact of TID effect on the analog SET sensitivy of linear integrated circuits
IEEE NSREC07 Conference (Honolulu, United States, 2007)
Indicateurs
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