Résumé
We present experimental data from long-range heavy-ion and low-energy proton radiation testing of a 90nm SRAM consisting of two stacked layers. Results are discussed and impact on proton SEE rate is investigated.
- Titre
- Impact of Stacked-Layer Structure on SEE Rate of SRAMs
- Créateurs - sans rôle
- Viyas Gupta - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTemsAlexandre Louis Bosser - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTemsGeorgios Tsiligiannis - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAli MohammadzadehArto JavanainenAri VirtanenHelmut PuchnerFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Wrobel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 52nd International Nuclear and Space Radiation Effects Conference
- Colloque
- NSREC: Nuclear and Space Radiation Effects Conference (Boston, United States, 13/07/2015–17/07/2015)
- Identifiants
- 9942611909311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES; Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-01238384