- Titre
- Impact of Simultaneous Switching Noise on the Static Behavior of Digital CMOS Circuits
- Créateurs - sans rôle
- Florence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLaurent Larguier - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 16th IEEE Asian Test Symposium, pp.239-244
- Colloque
- ATS: Asian Test Symposium (Beijing, China, 11/10/2007)
- Identifiants
- 9944631709311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00179262
Acte de colloque
Impact of Simultaneous Switching Noise on the Static Behavior of Digital CMOS Circuits
16th IEEE Asian Test Symposium, pp.239-244
ATS: Asian Test Symposium (Beijing, China, 11/10/2007)
08/10/2007
Indicateurs
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