- Titre
- Impact of Resistive-Open Defects on SRAM sensitivity to Soft Errors
- Créateurs - sans rôle
- Paolo Rech - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMJean-Marc J.-M. Galliere - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesFrédéric Wrobel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Colloque
- RADECS: European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (Langenfeld, Austria, 20/09/2010–24/09/2010)
- Identifiants
- 9946229909311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES; Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00566847
Acte de colloque
Impact of Resistive-Open Defects on SRAM sensitivity to Soft Errors
RADECS: European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (Langenfeld, Austria, 20/09/2010–24/09/2010)
20/09/2010
Indicateurs
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