- Titre
- Impact of Resistive-Bridging Defects in SRAM Core-Cell
- Créateurs - sans rôle
- Renan Alves Fonseca - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesNabil Badereddine - Infineon Technologies France
- Détails de publication
- DELTA'10: International Symposium on Electronic Design, Test & Applications, pp.265-270
- Colloque
- DELTA'10: International Symposium on Electronic Design, Test & Applications (Ho Chi Minh, Vietnam)
- Identifiants
- 9942362809311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00553592
Acte de colloque
Impact of Resistive-Bridging Defects in SRAM Core-Cell
DELTA'10: International Symposium on Electronic Design, Test & Applications, pp.265-270
DELTA'10: International Symposium on Electronic Design, Test & Applications (Ho Chi Minh, Vietnam)
13/01/2010
Indicateurs
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