Impact of Random Telegraph Signal in CMOS Image Sensors for Low-Light Levels

Acte de colloque

C. Leyris, Frédéric Martinez, M. Valenza, A. Hoffmann, C. Vildeuil et F. Roy

2006 Proceedings of the 32nd European Solid-State Circuits Conference, pp.376-379

2006 Proceedings of the 32nd European Solid-State Circuits Conference (Montreux, France, 19/09/2006–21/09/2006)

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Titre: Impact of Random Telegraph Signal in CMOS Image Sensors for Low-Light Levels
Créateurs - sans rôle: C. Leyris - Université de Montpellier
Frédéric Martinez - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de Montpellier
M. Valenza - Université de Montpellier
A. Hoffmann - Université de Montpellier
C. Vildeuil
F. Roy - STMicroelectronics (Switzerland)
Détails de publication: 2006 Proceedings of the 32nd European Solid-State Circuits Conference, pp.376-379
Colloque: 2006 Proceedings of the 32nd European Solid-State Circuits Conference (Montreux, France, 19/09/2006–21/09/2006)
Identifiants: 9942400009311
Unité académique: Université de Montpellier
Langue: English
Type de ressource: Conference proceeding
Champs locaux: hal-02063033