- Titre
- Impact of Gate Oxide Reduction Failure on Analog Applications: Example of the Current Mirror
- Créateurs - sans rôle
- S. BernardiniP. MassonJean-Michel Portal - Laboratoire matériaux et microélectronique de ProvenceJean-Marc J.-M. Galliere - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 5th IEEE Latin American Test Workshop, pp.12-17
- Colloque
- LATW: Latin American Test Workshop (Cartagena, Spain, 08/03/2004–10/03/2004)
- Identifiants
- 9944956009311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00108659
Acte de colloque
Impact of Gate Oxide Reduction Failure on Analog Applications: Example of the Current Mirror
5th IEEE Latin American Test Workshop, pp.12-17
LATW: Latin American Test Workshop (Cartagena, Spain, 08/03/2004–10/03/2004)
2004
Indicateurs
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