- Titre
- Imaging NanoDielectrics with Electrostatic Force Microscopy
- Créateurs - sans rôle
- Richard Arinero - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESClément Riedel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESGustavo Ariel Schwartz - Centro de FísicaN. E. Israeloff - Northeastern University [Boston]Angel Alegría - University of the Basque CountryPhilippe Tordjeman - Institut de Mécanique des Fluides de ToulouseJuan Colmenero - University of the Basque Country
- Colloque
- The 13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (Kanazawa, Japan, 07/2010)
- Identifiants
- 9937481309311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01813930
Acte de colloque
Imaging NanoDielectrics with Electrostatic Force Microscopy
The 13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (Kanazawa, Japan, 07/2010)
Indicateurs
1 Consultations de la notice