- Titre
- I-V and Low frequency noise characterization of Polysilicon and Amorphous Ti- and Co- salicide resistors
- Créateurs - sans rôle
- Jérémy Raoult - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESF. Pascal - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESCédric Leyris - STMicroelectronics
- Colloque
- EMRS (Strasbourg, France, 08/06/2009)
- Identifiants
- 9945452809311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01894349
Acte de colloque
I-V and Low frequency noise characterization of Polysilicon and Amorphous Ti- and Co- salicide resistors
EMRS (Strasbourg, France, 08/06/2009)
Indicateurs
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