- Titre
- Highlights of Laser Testing Capabilities Regarding the Understanding of SEE in SRAM-based FPGA
- Créateurs - sans rôle
- A. Bocquillon - EADS, Corporate Research CenterG. Foucard - Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrésF. Miller - EADS, Corporate Research CenterNadine Buard - EADS, Corporate Research CenterRégis Leveugle - Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrésC. Daniel - EADS, Corporate Research CenterS. RakersT. Carriere - EADS, Corporate Research CenterVincent Pouget - Laboratoire de l'intégration, du matériau au systèmeRaoul Velazco - Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés
- Détails de publication
- Proceedings of the 9th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS) 2007, pp.36-42
- Colloque
- 9th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS)
- Identifiants
- 99162129609311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
Acte de colloque
Highlights of Laser Testing Capabilities Regarding the Understanding of SEE in SRAM-based FPGA
Proceedings of the 9th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS) 2007, pp.36-42
9th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS)
2007
Indicateurs
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