- Titre
- Highlight of Total Ionizing Dose Effects on a RF Front-end by means of Microwave Nonlinear Characterization
- Créateurs - sans rôle
- Jérémy Raoult - Institut d'Électronique et des SystèmesSylvie Jarrix - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESLaurent Chusseau - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IEST. Maraine - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJérôme Boch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- RADECS (Montpellier, France, 16/09/2019)
- Identifiants
- 99153841309311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-02170742
Acte de colloque
Highlight of Total Ionizing Dose Effects on a RF Front-end by means of Microwave Nonlinear Characterization
RADECS (Montpellier, France, 16/09/2019)
Indicateurs
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