Logo image
Se connecter
High aspect ratio deep etching in GaInAsSb/AlGaAsSb system by ICP-RIE plasma
Acte de colloque   Open Access

High aspect ratio deep etching in GaInAsSb/AlGaAsSb system by ICP-RIE plasma

Brice Adelin, Alexandre Larrue, Aurélie Lecestre, Pascal Dubreuil, Yves Rouillard, Guilhem Boissier, Aurore Vicet, Antoine Monmayrant et Olivier Gauthier-Lafaye
Plasma Etch and Strip in Microtechnology ( PESM ) 2014 (Grenoble, France, 12/05/2014–13/05/2014)

Résumé

Fichiers et liens (1)

url
Find in HALAfficher

Indicateurs

1 Consultations de la notice

Détails

Logo image