- Titre
- Hierarchical Code Correction and Reliability Management in Embedded NOR Flash Memories
- Créateurs - sans rôle
- Benoît Godard - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMJean-Michel Daga - Atmel CorporationLionel Torres - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesGilles Sassatelli - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 13th IEEE European Test Symposium, pp.84-90
- Colloque
- ETS: European Test Symposium (Verbania, Italy, 29/05/2008)
- Identifiants
- 9945029709311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00285875
Acte de colloque
Hierarchical Code Correction and Reliability Management in Embedded NOR Flash Memories
13th IEEE European Test Symposium, pp.84-90
ETS: European Test Symposium (Verbania, Italy, 29/05/2008)
25/05/2008
Indicateurs
1 Consultations de la notice