- Titre
- GOSMOS: A Gate Oxide Short Defect Embedded in a MOS Compact Model
- Créateurs - sans rôle
- Michel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesJean-Marc J.-M. Galliere - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMFlorence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesYves Bertrand - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesJean-Michel Portal - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de ProvenceRachid Bouchakour - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
- Détails de publication
- 4th IEEE Latin American Test Workshop
- Colloque
- LATW: Latin American Test Workshop (Natal, Brazil, 16/02/2003)
- Identifiants
- 99152778809311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00269604
Acte de colloque
GOSMOS: A Gate Oxide Short Defect Embedded in a MOS Compact Model
4th IEEE Latin American Test Workshop
LATW: Latin American Test Workshop (Natal, Brazil, 16/02/2003)
2003
Indicateurs
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