Fundamentals of Atomic Force Microscopy

Acte de colloque

AFM School, “AFM characterization of wood mechanical properties” (Zvolen, Slovakia, 09/2014)

Fichiers et liens (1)

url

Find in HALAfficher

1 Consultations de la notice

Titre: Fundamentals of Atomic Force Microscopy
Créateurs - sans rôle: Richard Arinero - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Colloque: AFM School, “AFM characterization of wood mechanical properties” (Zvolen, Slovakia, 09/2014)
Identifiants: 9947127409311
Unité académique: Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Langue: English
Type de ressource: Conference proceeding
Champs locaux: hal-01814141