- Titre
- Functionalized Atomic Force Microscopy Cantilevers for Tip-enhanced Raman Spectroscopy
- Créateurs - sans rôle
- P BrodardMikhael Bechelany - Université de Montpellier, Institut Européen des Membranes - IEMLaëtitia Philippe - Swiss Federal Laboratories for Materials Testing and ResearchMichler Johann - Swiss Federal Laboratories for Materials Science and Technology
- Colloque
- ICMAT 2011 (Singapour, Singapore, 26/07/2011)
- Identifiants
- 9945938209311
- Unité académique
- Institut Européen des Membranes - IEM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01704651
Acte de colloque
Functionalized Atomic Force Microscopy Cantilevers for Tip-enhanced Raman Spectroscopy
ICMAT 2011 (Singapour, Singapore, 26/07/2011)
Indicateurs
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