- Titre
- Fully-Efficient ADC Test Technique for ATE with Low Resolution Arbitrary Wave Generators
- Créateurs - sans rôle
- Vincent Kerzérho - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPhilippe Cauvet - NXP (Germany)Serge Bernard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesFlorence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMariane Comte - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- IMSTW'07: International Mixed-Signals Testing Workshop and 3rd International GHz/Gbps Test Workshop, pp.196-201
- Colloque
- IMSTW'07: International Mixed-Signals Testing Workshop and 3rd International GHz/Gbps Test Workshop (Povoa de Varzim, Portugal, 18/06/2007–20/06/2007)
- Identifiants
- 9942337009311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00161708
Acte de colloque
Fully-Efficient ADC Test Technique for ATE with Low Resolution Arbitrary Wave Generators
IMSTW'07: International Mixed-Signals Testing Workshop and 3rd International GHz/Gbps Test Workshop, pp.196-201
IMSTW'07: International Mixed-Signals Testing Workshop and 3rd International GHz/Gbps Test Workshop (Povoa de Varzim, Portugal, 18/06/2007–20/06/2007)
2007
Indicateurs
1 Consultations de la notice