- Titre
- Fitting ATE Channels with Scan Chains: A Comparison Between a Test Data Compression Technique and Serial Loading of Scan Chains
- Créateurs - sans rôle
- Julien Dalmasso - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMMarie-Lise Flottes - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesBruno Rouzeyre - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- DELTA'06: Third IEEE International Workshop on Electronics DesignTest & Applications, pp.295-300
- Colloque
- DELTA'06: Third IEEE International Workshop on Electronics DesignTest & Applications (Kuala Lumpur (Malaysia))
- Identifiants
- 9944446209311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00102704
Acte de colloque
Fitting ATE Channels with Scan Chains: A Comparison Between a Test Data Compression Technique and Serial Loading of Scan Chains
DELTA'06: Third IEEE International Workshop on Electronics DesignTest & Applications, pp.295-300
DELTA'06: Third IEEE International Workshop on Electronics DesignTest & Applications (Kuala Lumpur (Malaysia))
2006
Indicateurs
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