- Titre
- Finite Element Modelling of EFM Signals in Presence of Nano-Objects Buried Inside Dielectric Samples
- Créateurs - sans rôle
- Richard Arinero - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESClément Riedel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESCathy Guasch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- The 14th International Scanning Probe Microscopy Conference (Toronto, United States, 06/2012)
- Identifiants
- 9947122909311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01813904
Acte de colloque
Finite Element Modelling of EFM Signals in Presence of Nano-Objects Buried Inside Dielectric Samples
The 14th International Scanning Probe Microscopy Conference (Toronto, United States, 06/2012)
Indicateurs
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