- Titre
- Fiabilité et analyse des défaillances de modules de puissance à IGBT
- Créateurs - sans rôle
- V. Smet - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- Conférence JCGE 2008 (Lyon, France, 2008)
- Identifiants
- 9944264009311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01916536
Acte de colloque
Fiabilité et analyse des défaillances de modules de puissance à IGBT
Conférence JCGE 2008 (Lyon, France, 2008)
Indicateurs
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