- Titre
- Fast and Fully-Efficient Test Flow for ADCs
- Créateurs - sans rôle
- Serge Bernard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMariane Comte - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesFlorence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesYves Bertrand - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- IMSTW'05: 11th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop, pp.244-249
- Colloque
- IMSTW'05: 11th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop (Cannes, 27/06/2005–29/06/2005)
- Identifiants
- 9943018909311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00106523
Acte de colloque
Fast and Fully-Efficient Test Flow for ADCs
IMSTW'05: 11th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop, pp.244-249
IMSTW'05: 11th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop (Cannes, 27/06/2005–29/06/2005)
2005
Indicateurs
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