- Titre
- Fast Bridging Fault Diagnosis using Logic Information
- Créateurs - sans rôle
- Alexandre Rousset - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesChristian Landrault - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 16th IEEE Asian Test Symposium, pp.33-38
- Colloque
- ATS: Asian Test Symposium (Beijing, China, 11/10/2007)
- Identifiants
- 9944733309311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00179259
Acte de colloque
Fast Bridging Fault Diagnosis using Logic Information
16th IEEE Asian Test Symposium, pp.33-38
ATS: Asian Test Symposium (Beijing, China, 11/10/2007)
08/10/2007
Indicateurs
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