- Titre
- Evidencing the Influence of Defects on the Charge Storage Mechanism of Sputtered Vanadium Nitride Pseudocapacitive Electrode
- Créateurs - sans rôle
- Thierry Brousse - Institut des Matériaux Jean RouxelEtienne Le Calvez - Institut des Matériaux Jean RouxelKevin Robert - Institut d'électronique de microélectronique et de nanotechnologieMarielle Huvé - CatalyseMaya Marinova - CatalysePascal Roussel - CatalyseLaurent Fugère - Nano Hydrophobics (United States)Dmitri Yarekha - Institut d'électronique de microélectronique et de nanotechnologieOlivier Crosnier - Institut des Matériaux Jean RouxelCamille Douard - Institut des Matériaux Jean RouxelChristophe Lethien - Réseau sur le Stockage Electrochimique de l'énergie
- Colloque
- PRiME 2020 (Pacific Rim Meeting, ECS, ECSJ, KECS Joint Meeting) (Visioconférence, Japan, 04/10/2020)
- Identifiants
- 9981800509311
- Unité académique
- Université de Montpellier
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-04303350
Acte de colloque
Evidencing the Influence of Defects on the Charge Storage Mechanism of Sputtered Vanadium Nitride Pseudocapacitive Electrode
PRiME 2020 (Pacific Rim Meeting, ECS, ECSJ, KECS Joint Meeting) (Visioconférence, Japan, 04/10/2020)
Indicateurs
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