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Evaluation of MOS devices total dose response using the isochronal annealing method
Acte de colloque

Evaluation of MOS devices total dose response using the isochronal annealing method

Frédéric Saigné, L. Dusseau, J. Fesquet, J. Gasiot et R. Ecoffet
38th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference (Vancouver, Canada, 2001)

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