- Titre
- Estimation of Low-Dose-Rate Degradation on Bipolar Linear Integrated Circuits Using Switching Experiments
- Créateurs - sans rôle
- Jérôme Boch - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierFrédéric Saigné - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierR.D. Schrimpf - Vanderbilt UniversityJ.-R. Vaillé - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierL. Dusseau - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierS. Ducret - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierM. Bernard - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierE. Lorfèvre - Centre National d'Études SpatialesC. Chatry
- Colloque
- 42th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference (Seattle, United States, 2005)
- Identifiants
- 9944664009311
- Unité académique
- Université de Montpellier
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01807152
Acte de colloque
Estimation of Low-Dose-Rate Degradation on Bipolar Linear Integrated Circuits Using Switching Experiments
42th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference (Seattle, United States, 2005)
Indicateurs
1 Consultations de la notice