- Titre
- Erratic Degradation and Circuit Effects Induced by TID in a Typical Current Feedback Amplifier
- Créateurs - sans rôle
- S. PerezL. Dusseau - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESY. Gonzalez Velo - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJ.-R. Vaillé - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJ. Boch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESF. Bezerra - Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrésR. Ecoffet - Centre National d'Études Spatiales
- Colloque
- IEEE RADECS 2011 (Seville, Spain, 2011)
- Identifiants
- 99116037909311
- Unité académique
- Centre Spatial de l'Université de Montpellier - CSUM; Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01823586
Acte de colloque
Erratic Degradation and Circuit Effects Induced by TID in a Typical Current Feedback Amplifier
IEEE RADECS 2011 (Seville, Spain, 2011)
Indicateurs
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