- Titre
- Ensuring High Testability without Degrading Security
- Créateurs - sans rôle
- Giorgio Di Natale - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMarie-Lise Flottes - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesBruno Rouzeyre - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Colloque
- DDECS'10: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (Vienna, Austria)
- Identifiants
- 9947077109311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00480710
Acte de colloque
Ensuring High Testability without Degrading Security
DDECS'10: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (Vienna, Austria)
14/04/2010
Indicateurs
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