Embedded Flash Testing

Acte de colloque

Olivier Ginez, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel et Jean-Michel Daga

Colloque du GDR SoC-SiP (Paris, France, 13/06/2007–15/06/2007)

2007

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Titre: Embedded Flash Testing
Créateurs - sans rôle: Olivier Ginez - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
Patrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Christian Landrault - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
Serge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Arnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Jean-Michel Daga - Atmel Corporation
Colloque: Colloque du GDR SoC-SiP (Paris, France, 13/06/2007–15/06/2007)
Identifiants: 9944959509311
Unité académique: Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
Langue: French
Type de ressource: Conference proceeding
Champs locaux: lirmm-00194277